產品(pin)詳(xiang)情
簡單介紹：
該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
詳情介紹：
測量半導電電阻率時： 電阻率10-4--105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm
測量其他（電線電纜）電阻時： 電阻10-4--2X105Ω，分(fen)辨率1uΩ
二、 數字(zi)電壓表：
1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V
2． 測量(liang)誤差 2mA檔(dang)±(0.5%讀(du)數+8字(zi))；20mV—2V擋(dang)±(0.5%讀(du)數+2字(zi))
3． 顯(xian)示(shi)4 1/2 位數字顯(xian)示(shi)0—19999具有極性和過載自動顯(xian)示(shi)，小數點、單位自動顯(xian)示(shi)。
三、 恒流源：
1． 電(dian)流輸出：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．
2. 電流誤(wu)差：±(0.5%讀(du)數+2字)
